產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。
產(chǎn)品分類(lèi)
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀這款高度集成的桌面儀器利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。設(shè)備主要用于檢測(cè)如襯底片和外延片的缺陷，包括位錯(cuò)、顆粒、凹坑、劃痕和污染等類(lèi)型的瑕疵，并且可以根據(jù)客戶(hù)的需求進(jìn)行定制服務(wù)
光學(xué)成像系統(tǒng)：
10X 遠(yuǎn)場(chǎng)消色差長(zhǎng)工距顯微鏡頭
0.8X 擴(kuò)視野相機(jī)轉(zhuǎn)接鏡筒
500萬(wàn)像素采集相機(jī)
LED同軸反射光源
輔助自動(dòng)聚焦激光傳感器
自動(dòng)運(yùn)動(dòng)平臺(tái)：包括4寸，6寸和8寸Wafer載物臺(tái)夾具1套
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
公司郵箱： [email protected]
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
相關(guān)文章
上一個(gè)：
返回列表